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AI 服务器硬件可靠性：环境应力试验、失效机理及设备选型指南
前言：GB/T 45087-2024《人工智能服务器系统性能测试方法》为AI服务器建立了统一的性能评测标尺。但不少研发与质量人员存在认知误区：服务器跑分、算力指标达标，就等同于整机可以多年稳定不间断服...
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聚焦环境试验设备、可靠性测试和企业动态，了解行业应用与技术趋势。
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几百小时H3TRB/HAST测试，就能代表器件数年寿命？
电子产品、汽车零部件、通信、光伏、海工产品除盐雾腐蚀验证之外，高温高湿叠加电场引发的电化学失效，也是可靠性验证的重点考验。不少研发人员存在认知误区：器件标称数年使用寿命，实验室做几百小时THB、H3T...
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盐雾试验48小时，就等同于产品10年使用寿命？
电子产品、汽车零部件、通信设备、光伏组件、海洋配套器件走向市场之前，几乎都绕不开一项可靠性验证——盐雾试验。实际工作中经常遇到普遍疑问：产品规格书要求整机工作寿命达到十年，为什么盐雾测试仅仅只需要做4...
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半导体功率器件试验箱选型参考
二极管、MOSFET、双极晶体管等分立器件，是新能源汽车、光伏逆变器、工业变频器的基础“工业粮食”，器件可靠性决定整机安全与服役年限。不少元器件厂商严格按照JESD、AEC-Q101标准做老化、温循测...
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车载/工控/消费屏漏液、花屏失效筛查方法、适用边界与设备选型参考
随着车载显示、工业控制和消费电子市场发展，客户对LCD/OLED显示模组可靠性的要求不断提高。除高低温、温度循环和湿热等常规环境试验外，部分企业还会根据产品结构、应用环境及客户规范，引入HAST、PC...
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如何用数千小时试验，精准等效芯片5-10年自然使用寿命?
如何加快芯片寿命验证01汽车ECU、车载SoC、服务器CPU、航天ASIC等半导体器件，行业标准要求可靠使用寿命达到5~10年。如果完全按照自然工况长期测试，需要连续数万小时不间断监测，芯片企业研发周...